2014年10月16日，浙江大学“求是材料科学论坛”第三十讲暨日本AIST 纳米管研究中心Kazu Suenaga博士学术报告在硅材料国家重点实验室一号楼会议室顺利举行。日本产业技术综合研究所的电子显微学专家K.Suenaga做了题为低压TEM / STEM的原子分辨率成像和光谱的报告。报告由电镜中心金传洪教授主持，4556银河国际在线院长韩高荣教授、袁俊教授等老师和材料学院部分研究生同学参加了此次报告会。
金传洪教授首先介绍了Suenaga博士的学术经历和研究方向。Kazu Suenaga博士于1994年在东京大学获得材料科学博士学位，随后在巴黎高等矿业学校和巴黎第十一大学固态物理实验室开展博士后研究,现任产业技术综合研究所(产业)高级研究员。Suenaga博士发表过140多篇论文，论文引用超过6700，获得过2005年日本电子显微学会颁发的濑户奖等众多奖项。他主要研究通过电子显微学和能谱实现原子水平的单分子表征。
Suenaga博士在做报告
接着Suenaga博士开始作报告，他指出实现接近波长极限的空间分辨率是电子显微学的终极目标。Suenaga小组开发了带Delta 矫正的低压TEM /STEM以实现高阶几何畸变校正。迄今为止，Delta矫正和冷FEG发射源的简单结合可以实现在低至15 kV下的原子尺度分辨率。报告中Suenaga首先向大家介绍了低压TEM /STEM的发展。材料在2D和1D尺度下的原子缺陷比如空位和杂原子通过传统的手法很难表征，低压TEM /STEM可以用来表征低维材料的原子缺陷。结合石墨烯、h-BN、 MoS2和一维原子链，Suenaga博士给大家做了详细的讲解。同时和其他技术相结合，低压TEM /STEM可以实现原位的材料表征和纳米材料的制备。展示PPT中，每个研究成果都配有课题组成员喝啤酒庆祝的图片，妙趣横生，让大家体会到科研过程虽辛苦但也充满无穷的乐趣，特别是研究过程中有所发现的时候。
在接下来的自由提问环节，Suenaga博士针对大家提出的问题都做了详细的阐释。最后在大家热烈的掌声中，报告会顺利结束。
